SMU Architecture - High Current Resolution

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题名:	SMU Architecture - High Current Resolution
作者:	賴瓊惠 Lai, Chiung-Hui
贡献者:	電子工程學系 Electronics Engineering
关键词:	量測源單元;保護環;放大器 SMU;guard ring;OP amp;DUT;Darlington pair
日期:	2008
上传时间:	2014-07-01 10:30:40 (UTC+8)
摘要:	靜態電流-電壓特性曲線圖是半導體元件重要的參數之一,其測量源須達到高精度以及皮米的數量級,本論文提出一個達成此量測源的電路架構. The static I-V characteristic of a semiconductor device is an essential term for the extraction of device parameters itself. It is very common to plot I-V curves with semiconductor device parameter measurement and the source-measure unit (SMU) is one of c
显示于类别:	[電子工程學系] 期刊論文

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