Chung-Hua University Repository:Item 987654321/35789
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    题名: SDRAM產品預燒時間之研究
    作者: 謝國台
    HSIEH, KUOTAI A.
    贡献者: 應用統計學系
    Applied Statistics
    关键词: reliability;Burn-In model;SDRAM;Burn-In error
    日期: 2005
    上传时间: 2014-06-27 10:49:52 (UTC+8)
    摘要: Recently, the semiconductor industrial markets are expanding rapidly. To survive on the competitive markets, one must enhance the manufacturing technology and improve the quality and reliability. Cost issue must be considered as well. The purpose of this
    显示于类别:[應用統計學系] 期刊論文

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