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    題名: 針測行程標準化系統對晶圓測試影響之研究-以新竹某公司之測試部門為例
    作者: 賀力行
    Ho, Li-Hsing
    貢獻者: 科技管理學系
    Technology Management
    關鍵詞: 晶圓測試;針測行程;OverDriver
    日期: 2009
    上傳時間: 2014-06-26 23:39:58 (UTC+8)
    摘要: 近年來，國內半導體產業蓬勃發展，對於測試產能之要求更加提高，因此如何以現
    有測試的設備，提高測試產能，減少生產效率之損失，對於台灣半導體測試業是一個相
    當重要的課題。本研究對某個案公司測試部門為調查對象，藉由問卷調查及深入訪談方
    式，探討運用針測行程標準化系統之對晶圓測試效益之影響，期望以本研究之探討，可
    提供業界未來導入此系統參考指引。
    顯示於類別:[科技管理學系] 研討會論文

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