針測行程標準化系統對晶圓測試影響之研究-以新竹某公司之測試部門為例

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Title:	針測行程標準化系統對晶圓測試影響之研究-以新竹某公司之測試部門為例
Authors:	賀力行 Ho, Li-Hsing
Contributors:	科技管理學系 Technology Management
Keywords:	晶圓測試;針測行程;OverDriver
Date:	2009
Issue Date:	2014-06-26 23:39:58 (UTC+8)
Abstract:	近年來，國內半導體產業蓬勃發展，對於測試產能之要求更加提高，因此如何以現有測試的設備，提高測試產能，減少生產效率之損失，對於台灣半導體測試業是一個相當重要的課題。本研究對某個案公司測試部門為調查對象，藉由問卷調查及深入訪談方式，探討運用針測行程標準化系統之對晶圓測試效益之影響，期望以本研究之探討，可提供業界未來導入此系統參考指引。
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