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Last Update: 2025-01-20 04:35

	錯誤測試影響品質預估之研究
	低壓、全彩色螢光材料之研究開發
	樣本選擇機率和階級選擇機率的新運算法則
	取樣錄放電子音樂合成器之研究與設計
	即時數位信號處理架構研究及可程式信號處理器之設計(I)
	超大型/晶圓積體電路測試之研究
	經由結構可重新調整技術來設計容錯VLSI/WSI 陣列處理器
	以濺鍍方式研究開發低壓ZnGa2O4螢光膜
	0.5數值孔徑雙延遲透鏡之設計
	樣本選擇機率和階級選擇機率的研究

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Date	Title	Authors
1995	超大型/晶圓積體電路測試(Ⅱ)	陳竹一
1997	超大型/晶圓積體電路測試之研究	陳竹一
1994	超大型/晶圓積體電路測試之研究	陳竹一
1996	超大型積體電路測試與可測試性設計課程發展:子計畫二:記憶體測試(II)	陳竹一
2000	超大型／晶圓積體電路測試之研究	陳竹一
1998	超大型／晶圓積體電路測試之研究	陳竹一
1996	軌跡辨識:可調性類神經網路之研究與應用	林道通
1998	適用於多速率DS/SFH無線多媒體傳輸系統之低電路複雜度錯誤更正解碼器研究(1)	魏學文
2008	適用於廣色域顯示器的色差公式之研究	溫盛發
1993	錯誤測試影響品質預估之研究	陳竹一
2002	陶瓷馬達在固定頻率下之模型與驗證	黃啟光

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