晶圓製造廠內具時間限制的生產線段之現場管控模式

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题名:	晶圓製造廠內具時間限制的生產線段之現場管控模式
作者:	杜瑩美 Tu, Ying Mei
贡献者:	工業管理學系 Industrial Management
关键词:	晶圓製造;時間限制;在製品;現場管控模式 Wafer Fabrication;Time Constraint;Working In Process;Shop Floor Control
日期:	2010
上传时间:	2014-06-27 10:48:37 (UTC+8)
摘要:	晶圓製造為一種資本密集、製程複雜且競爭相當激烈之產業，但在如此複雜的製造環境中，卻始終具有時間限制(Time Constraint, TC)之特殊現象。受此因素影響，對於具時間限制之機台的管控就變得極為困難。有鑑於此，本研究提出一套針對時間限制機台向上游機台叫料之現場管控模式。此現場管控模式將利用（S,s）存貨理論概念，於此段生產線內決定一合適之WIP範圍，當WIP高於上限(S)時阻隔上游繼續投料，而當WIP低於下限(s)時則對上游叫料。由於機台閒置主要受上游當機所影響，於是吾人利用期望產能損失時間佐以其 Recently, wafer fabrication has become more complicated and lengthening the product queue time. To ensure final product yield, engineers need to set up queue time limits for particular machines. There is no doubt that time constraint will influence the ma
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