Chung-Hua University Repository:Item 987654321/35729
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 8557/14866 (58%)
造访人次 : 1418189      在线人数 : 2565
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻
    主页登入上传说明关于CHUR管理 到手机版


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://chur.chu.edu.tw/handle/987654321/35729


    题名: The Design Of KPI on Technology Development of Wafer Foundry
    作者: 杜瑩美
    Tu, Ying Mei
    贡献者: 工業管理學系
    Industrial Management
    关键词: key performance indicator;R&D;wafer foundry;X-factor;cycle time
    日期: 2010
    上传时间: 2014-06-27 10:47:20 (UTC+8)
    摘要: Due to capital intensive characteristics, R&D departments always share production equipment with
    manufacturing departments in the wafer foundry industry. The goal of key performance indicators
    (KPIs) among these two departments is contradictory, a situati
    显示于类别:[工業管理學系] 期刊論文

    文件中的档案:

    档案 描述 大小格式浏览次数
    p_m515_0183.pdf28KbAdobe PDF156检视/开启


    在CHUR中所有的数据项都受到原著作权保护.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回馈