English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 8557/14866 (58%)
造訪人次 : 1403716      線上人數 : 2504
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋
    主頁登入上傳說明關於CHUR管理 到手機版


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://chur.chu.edu.tw/handle/987654321/34721


    題名: 光碟片自動光學檢測系統之研發
    作者: 邱奕契
    Chiou, Yih-Chih
    貢獻者: 機械工程學系
    Mechanical Engineering
    關鍵詞: 暗場檢測;亮場檢測;光碟片;線掃瞄;激發取像
    暗場檢測;亮場檢測;光碟片;線掃瞄;激發取像
    日期: 2005
    上傳時間: 2014-06-27 03:01:17 (UTC+8)
    摘要: 本研究採用線掃描(line scan)攝影機,搭配線型光纖光源、以及旋轉平台,能夠在0.25 秒內獲得完整之光碟片影像。在瑕疵檢測方面,本研究對於大面積瑕疵與細小瑕疵,分別使用二值化法與梯度差法進行檢測。本研究結合暗場檢測、亮場檢測、瞬間激發取像、及影像處理技術,完成一套光碟片自動光學檢測系統之雛形,可針對保護膠塗佈之光碟片進行瑕疵的偵測。實驗結果顯示,透過本研究所建構之取像設備與自行開發之檢測程式,可順利將光碟表面之瑕疵檢測出來並予以分類。檢測解析度可視需要調整,然而檢測速度與所要求的解析度成反比。以P
    本研究採用線掃描(line scan)攝影機,搭配線型光纖光源、以及旋轉平台,能夠在0.25 秒內獲得完整之光碟片影像。在瑕疵檢測方面,本研究對於大面積瑕疵與細小瑕疵,分別使用二值化法與梯度差法進行檢測。本研究結合暗場檢測、亮場檢測、瞬間激發取像、及影像處理技術,完成一套光碟片自動光學檢測系統之雛形,可針對保護膠塗佈之光碟片進行瑕疵的偵測。實驗結果顯示,透過本研究所建構之取像設備與自行開發之檢測程式,可順利將光碟表面之瑕疵檢測出來並予以分類。檢測解析度可視需要調整,然而檢測速度與所要求的解析度成反比。以P
    顯示於類別:[機械工程學系] 研討會論文

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    光碟片自動光學檢測系統之研發.pdf54KbAdobe PDF113檢視/開啟


    在CHUR中所有的資料項目都受到原著作權保護.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋