Chung-Hua University Repository:Item 987654321/34719
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 8557/14866 (58%)
造訪人次 : 1404645      線上人數 : 969
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋
    主頁登入上傳說明關於CHUR管理 到手機版


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://chur.chu.edu.tw/handle/987654321/34719


    題名: 以機器視覺為基礎之液晶面板點燈檢測
    作者: 邱奕契
    Chiou, Yih-Chih
    貢獻者: 機械工程學系
    Mechanical Engineering
    關鍵詞: LCD;點燈檢測;瑕疵偵測;標準差
    LCD;點燈檢測;瑕疵偵測;標準差
    日期: 2005
    上傳時間: 2014-06-27 03:01:15 (UTC+8)
    摘要: 台灣是全球LCD 面板的三個主要供應國之一,然而在LCD 背光模組完成組立後所進行的點燈測試,卻大都還是以人工目檢的方式在進行。點燈檢測是在面板上依序產生各種不同的樣本,目的是方便檢測人員檢查面板是否有缺陷,並將面板分級。人工目檢最大的缺點是檢測結果易受個人主觀意識的影響,不同人可能會有不同的判斷結果。再者,隨著五、六、及七代廠產能的逐漸開出,不僅面板的尺寸變大重量也變重,因此以雙手握住面板進行人工目檢的方式已不可行。有鑑於此,本研究的目標是發展一套以機器視覺為基礎之自動點燈測試系統,取代人工目檢的方式。
    台灣是全球LCD 面板的三個主要供應國之一,然而在LCD 背光模組完成組立後所進行的點燈測試,卻大都還是以人工目檢的方式在進行。點燈檢測是在面板上依序產生各種不同的樣本,目的是方便檢測人員檢查面板是否有缺陷,並將面板分級。人工目檢最大的缺點是檢測結果易受個人主觀意識的影響,不同人可能會有不同的判斷結果。再者,隨著五、六、及七代廠產能的逐漸開出,不僅面板的尺寸變大重量也變重,因此以雙手握住面板進行人工目檢的方式已不可行。有鑑於此,本研究的目標是發展一套以機器視覺為基礎之自動點燈測試系統,取代人工目檢的方式。
    顯示於類別:[機械工程學系] 研討會論文

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    以機器視覺為基礎之液晶面板點燈檢測.pdf59KbAdobe PDF185檢視/開啟


    在CHUR中所有的資料項目都受到原著作權保護.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋