積層陶瓷電容表面瑕疵之檢測與分類

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題名:	積層陶瓷電容表面瑕疵之檢測與分類
作者:	邱奕契 Chiou, Yih-Chih
貢獻者:	機械工程學系 Mechanical Engineering
關鍵詞:	MLCC;影像分割;特徵抽取;瑕疵分類 MLCC;影像分割;特徵抽取;瑕疵分類
日期:	2004
上傳時間:	2014-06-27 03:00:28 (UTC+8)
摘要:	本研究利用色彩模型轉換、影像分割、瑕疵偵測、特徵抽取、瑕疵分類等技術發展一套積層陶瓷電容（MLCC）表面瑕疵之檢測與分類系統。完成之系統可針對陶瓷體破損、端電極損傷、表面缺損、陶瓷體沾污、端電極沾污、浸鍍不良、端電極刮傷、氣泡、皺褶等9 種經常出現在MLCC表面上的瑕疵進行偵測與分類。本研究利用色彩模型轉換、影像分割、瑕疵偵測、特徵抽取、瑕疵分類等技術發展一套積層陶瓷電容（MLCC）表面瑕疵之檢測與分類系統。完成之系統可針對陶瓷體破損、端電極損傷、表面缺損、陶瓷體沾污、端電極沾污、浸鍍不良、端電極刮傷、氣泡、皺褶等9 種經常出現在MLCC表面上的瑕疵進行偵測與分類。
顯示於類別:	[機械工程學系] 研討會論文

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