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    題名: 高精度二維影像量測系統之研製技術
    作者: 羅鵬飛
    Luo, Perng-Fei
    貢獻者: 機械工程學系
    Mechanical Engineering
    關鍵詞: 電腦視覺;雷射干涉儀;次像素尋邊;邊界曲線求取;二維量測平台
    日期: 2005
    上傳時間: 2014-06-27 02:56:07 (UTC+8)
    摘要: 本文結合雷射干涉儀、視覺系統以及二維精密移動平台,發展一工作範圍為 18 mm × 18 mm 的高精度視覺檢測平台系統。本文將視覺系統置於三次元座標量床(本文簡稱CMM)之Z軸上,並於CMM床台上架設雷射、分光鏡與反射鏡組以及X-Y移動平台。經由移動平台可移動待測物件的兩特徵點(如角落)至相機可視範圍,再分別擷取含有此二特徵點的兩張影像。藉由雷射干涉儀量取平台移動之位移量,以及於同一影像平面下求取兩特徵點相對距離,即可求得此兩特徵點之實際距離。本文以所發展的二維雷射視覺量測系統,量取幾個 Olympus
    顯示於類別:[機械工程學系] 研討會論文

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    高精度二維影像量測系統之研製技術.pdf49KbAdobe PDF120檢視/開啟


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