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    題名: PXI雜訊指數分析儀之建構與測試
    作者: 田慶誠
    Tien, Ching-Cheng
    貢獻者: 電機工程學系
    Electrical Engineering
    關鍵詞: PXI;向量信號分析儀;雜訊指數
    日期: 2011
    上傳時間: 2014-06-27 02:30:15 (UTC+8)
    摘要: 本論文提出以PXI介面型向量信號分析儀(VSA)，並搭配Labview儀控程式完成雜訊指數(Noise Figure, NF)分析儀的設計，準確量測出RF低雜訊放大器之NF值。配合自製之PXI RF信號處理模組內部提供15dB ENR雜訊源，在加上PXI 1-to-6 RF switch board，可建構平價型RFIC測試機，提供Two-sites RFIC雜訊指數測試平台。PXI雜訊指數分析儀測試頻率範圍為1-6GHz，在f=2GHz, NF=2.23dB及f=3GHz, NF=3.19dB的低雜訊待
    顯示於類別:[電機工程學系] 研討會論文

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    PXI雜訊指數分析儀之建構與測試.pdf47KbAdobe PDF165檢視/開啟


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