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    題名: PXI向量網路分析儀之建構與測試
    作者: 田慶誠
    Tien, Ching-Cheng
    貢獻者: 電機工程學系
    Electrical Engineering
    關鍵詞: 向量網路分析儀
    PXI;VNA
    日期: 2011
    上傳時間: 2014-06-27 02:30:13 (UTC+8)
    摘要: 本論文提出以PXI介面型儀器組合成之向量網路分析儀(VNA)架構，並搭配Labview儀控程式完成所需SOLT校正機制，準確量測出S-參數之大小與相位。配合自製之PXI RF信號處理模組與PXI 1-to-6 RF switch board，可建構平價型RFIC測試機，提供multi-sites RFIC測試平台。PXI VNA測試頻率可支援至1-6GHz，在Return Loss(RL) 20dB的待測物條件下，所測得S11與S22的dB誤差小於0.3dB，相位誤差小於2度，對於RFIC量產測試機而
    顯示於類別:[電機工程學系] 研討會論文

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    PXI向量網路分析儀之建構與測試.pdf46KbAdobe PDF181檢視/開啟


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