Chung-Hua University Repository:Item 987654321/32596
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    題名: Temperature Sensing by Using Film Bulk Acoustic Resonator at 2.4GHz band
    作者: 高曜煌
    Kao, Yao-Huang
    貢獻者: 通訊工程學系
    Communication Engineering
    關鍵詞: 薄膜體聲波諧振腔;品質因數;射頻壓控振盪器;相位雜訊;CMOS IC製程;中心頻率;頻率調動靈敏度
    Bulk Acoustic Wave;AlN thin film;Resonator;Temperature Sensing;and TC
    日期: 2009
    上傳時間: 2014-06-27 01:59:27 (UTC+8)
    摘要: 薄膜體聲波諧振腔具有高品質因數和頻率穩定度,且其體積小重量輕、插入損耗低、耐用性高、可以與CMOS IC製程做整合等優點,且其頻率特性與溫度係數的關係小於傳統上使用的表面聲波元件,故此計畫將藉由國內CMOS 0.18um及0.13um製程的技術來實現一射頻2.0GHz的壓控振盪器,利用打線外接或是微機電製程技術將薄膜體聲波諧振腔整合到CMOS電路中。
    根據諧振腔振盪器的原理,由於薄膜體聲波諧振腔具有高品質因數,故
    我們可期待此計畫之射頻振盪器可達到低相位雜訊,此振盪器預計目標規格之中心頻率2.0G
    A four-layered Film Bulk Acoustic Resonator (FBAR) with AI/AlN/SiNx/Au composite structure was fabricated. The FBAR is composed of on a surface micromachined cantilever that is released by wet etching the copper scarification layer. The temperature coeffi
    顯示於類別:[通訊工程學系] 期刊論文

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